ZEMAX | 如何设计光谱仪 – 公差分析

好酷屋教程网小编为您收集和整理了ZEMAX | 如何设计光谱仪 – 公差分析的相关教程：ZEMAX|如何设计光谱仪公差分析光谱学作为一种无创伤性技术，是研究组织、等离子体和材料的最强大的工具之一。之前我们发布了文章如何设计一个光谱仪杂散光分析，该文概述了光谱仪系统的序列模式

ZEMAX | 如何设计光谱仪 – 公差分析

光谱学作为一种无创伤性技术，是研究组织、等离子体和材料的最强大的工具之一。之前我们发布了文章如何设计一个光谱仪 – 杂散光分析，该文概述了光谱仪系统的序列模式 – 非序列式转换、封装的简单设计、机械封装元件散射光情况的定量分析以及光谱仪探测器的杂散光污染情况。

而本文旨在介绍如何在 OpticStudio 中对由市售光学元件组建的透镜-光栅-透镜（LGL）光谱仪进行公差分析，包含如何补偿装配和加工制造产生的误差。联系我们下载文章的附件。

介绍

公差是一个复杂的课题，可以存在多种方法对一个光学系统进行公差分析。我们在此讨论的方法将针对确定实验室环境下组装的光谱仪，以及与镜片加工公差相关的参数。

光谱仪及其公差分析前准备工作

本文用于公差分析的光谱仪是一个透镜-光栅-透镜 (LGL) 光谱仪，在880 nm波长下带宽为50 nm。它被设计用于光学相干层析成像 (OCT) 应用。光谱仪的结构如下:

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